传质分析
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关键字：
传质分析
中析研究所
第三方检测机构
CMA/CNAS资质实验室
概述：传质分析聚焦物质传递过程定量表征，核心检测对象包括气液/液液相间传质系数（kL、kG）、界面面积（a）及总传质单元高度（HTU）。关键技术涵盖动态吸收/解吸法测定填料塔体积传质系数（KLa）、电化学探针法测量液滴/气泡传质通量、气体示踪法确定轴向返混系数（Dax）。通过瞬态浓度梯度监测与CFD流场耦合验证，为反应器设计提供扩散边界层动力学数据。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
因篇幅原因，CMA/CNAS证书以及未列出的项目/样品，请咨询在线工程师。
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检测项目
气液传质参数：
- 体积传质系数：KLa（动态氧电极法，误差±5%），kG（SO2吸收法参照ISO11543）
- 界面特性：气泡/液滴Sauter直径（d32≤3mm），比表面积（a≥500m2/m3）
- 分子扩散系数：DAB（Taylor分散法，温度范围25-80℃）
- 有效扩散系数：Deff（多孔介质ZLC法，孔隙率ε≥0.4）
- 返混系数：轴向Dax（示踪剂RTD曲线，Pe≥50）
- 持液量：动态hL（γ射线衰减法，精度±0.8%）
- 渗透通量：J（压差驱动法，ΔP=0.1-2.0MPa）
- 选择性因子：α（双组分分离≥40）
- 吸附速率常数：kads（突破曲线法参照ASTMD6646）
- 平衡吸附量：qm（重量法，相对湿度10-90%RH）
- 增强因子：E（化学吸收法，Hatta数0.3-5.0）
- 液固传质系数：ks（溶解电极法）
- 微通道内传质：Sh数（显微PIV法，Re≤500）
- 边界层厚度：δ（激光干涉法，分辨率0.1μm）
- Lewis数：Le（温湿度同步监测）
- 传质Grashof数：Grm（自然对流法）
- 氧传递速率：OTR（呼吸计量法，参照DINEN12274）
- 细胞膜通透性：Pm（荧光标记法）
- 大气扩散系数：Kz（烟羽模型法）
- 土壤溶质迁移：Rf（土柱淋溶法）
检测范围
1.化工填料塔：陶瓷/金属散堆填料，检测重点为KLa与压降关联特性
2.膜分离组件：反渗透/气体分离膜，检测重点为溶质截留率与浓差极化系数
3.固定床反应器：催化剂颗粒床层，检测重点为内扩散效率因子η
4.搅拌槽反应器：气液分散体系，检测重点为功率消耗与kLa关联
5.微通道设备：芯片式接触器，检测重点为表面张力主导的界面传质
6.吸附分离装置：分子筛/活性炭床，检测重点为传质区长度与饱和穿透时间
7.生物发酵罐：好氧培养系统，检测重点为体积氧传递系数OTR
8.土壤地下水系统：污染物迁移介质，检测重点为有效扩散系数与吸附分配系数
9.聚合物材料：包装阻隔薄膜，检测重点为水蒸气渗透率（WVTR）
10.燃料电池膜电极：质子交换膜，检测重点为气体跨膜传质阻力
检测方法
国际标准：
- ISO11543:2000气液传质系数测定（化学吸收法）
- ASTMD6646-03固定床吸附动力学测试规程
- ASTME741-11示踪气体法测定换气率
- DINEN12274-4泥浆表面氧传质系数测定
- GB/T32361-2015多孔材料气体扩散系数测试
- GB/T1037-2021塑料薄膜水蒸气透过率测定
- GB/T38483-2020微通道内气液传质性能测定
- HJ814-2016土壤阳离子交换量测定（乙酸铵法）
检测设备
1.气液传质分析仪：LMT-2000型（KLa测定范围0.001-0.5s-1，精度±3%）
2.高压膜分离测试系统：MSC-20MPa型（最大操作压力20MPa，流量精度±0.5mL/min）
3.激光多普勒测速仪：DantecFlowLite（速度分辨率0.01m/s，采样频率10kHz）
4.微尺度PIV系统：LaVisionDaVis8.3（空间分辨率1μm，帧率5000fps）
5.高通量吸附分析仪：BELSORP-maxII（压力范围0-133kPa，样品位16个）
6.气相分子扩散仪：GDP-100（温度控制-20~150℃，扩散池体积50mL）
7.电化学微电极系统：Uniscan3032（探针直径10μm，电流分辨率1pA）
8.荧光浓度场测量系统：PLIF-Cam（激发波长532nm，浓度分辨率0.01mol/m³）
9.高温高压反应釜：PARR4580（最高温度350℃，压力20MPa）
10.微量气体分析仪：GA-5000（检测限ppb级，响应时间≤1s）
11.旋转圆盘电极：PineRDE（转速范围100-10000rpm，控温±0.1℃）
12.动态水分吸附仪：DVS-Advantage（湿度控制±0.1%RH，质量灵敏度0.1μg）
13.土壤溶质迁移柱：CXK-100（柱径100mm，流速控制精度±1%）
14.微型反应器阵列：MRA-48（平行反应位48个，温度均一性±0.5℃）
15.X射线微断层扫描仪：SkyScan1272（空间分辨率0.8μm，电压20-100kV）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。